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晶圓針測

KLT為晶圓測試解決方案提供了廣泛的測試平臺,晶圓針測尺寸可支持6,8&12”,測試溫度從-55 °C-150 °都可滿足。


晶圓針測的其他服務項目包含:

- 鐳射修補

- 晶圓預燒

- 晶圓Cycling


CIS / CCD無塵等級class100,其他產品class1K,KLT有設計&維護探針卡的能力。

我們維護探針卡的能力包含:

- 垂直探針卡和懸臂式探針卡

- 1728 pins, 8 layer探針卡

-  細間距的LCD探針卡

- Alignment and contact resistance / leakage measurement

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